2020 IEEE 20th International Working Conference on Source Code Analysis and Manipulation (SCAM)

Podrobná bibliografie
Médium: Elektronický zdroj Kniha
Jazyk:English
Vydáno: IEEE
Témata:
On-line přístup:Full text available on IEEE [2017-2023]
Off-campus access
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

Podobné jednotky