2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IEEE.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IEEE.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 8)2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IEEE.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.