2019 IEEE International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO). IEEE.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)2019 IEEE International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO). IEEE.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)2019 IEEE International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO). IEEE.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.