2018 IEEE/ACM 3rd International Workshop on Metamorphic Testing (MET)

Dades bibliogràfiques
Format: Electrònic Llibre
Idioma:English
Publicat: IEEE
Matèries:
Accés en línia:Full text available on IEEE [2017-2023]
Off-campus access
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

Ítems similars