2018 3rd International Conference on Pattern Analysis and Intelligent Systems (PAIS). IEEE.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)2018 3rd International Conference on Pattern Analysis and Intelligent Systems (PAIS). IEEE.
Цитирование MLA (8-е изд.)2018 3rd International Conference on Pattern Analysis and Intelligent Systems (PAIS). IEEE.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.