2018 3rd International Conference on Pattern Analysis and Intelligent Systems (PAIS). IEEE.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)2018 3rd International Conference on Pattern Analysis and Intelligent Systems (PAIS). IEEE.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)2018 3rd International Conference on Pattern Analysis and Intelligent Systems (PAIS). IEEE.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.