2017 Symposium on Design, Test, Integration and Packaging of MEMS/MOEMS (DTIP). IEEE.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)2017 Symposium on Design, Test, Integration and Packaging of MEMS/MOEMS (DTIP). IEEE.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 8)2017 Symposium on Design, Test, Integration and Packaging of MEMS/MOEMS (DTIP). IEEE.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..