Skip to content
  • Ayesha Abed Library
  • שפה
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
מתקדם
  • חיפוש
  • 2017 IEEE International Confer...
  • יצירת מראה מקום
  • שלח את זה
  • הדפסה
  • יצוא רשומה
    • יצוא אל RefWorks
    • יצוא אל EndNoteWeb
    • יצוא אל EndNote
    • יצוא אל MARC
    • יצוא אל MARCXML
    • יצוא אל BibTeX
  • Permanent link
2017 IEEE International Conference on Software Quality, Reliability and Security (QRS)

2017 IEEE International Conference on Software Quality, Reliability and Security (QRS)

מידע ביבליוגרפי
פורמט: אלקטרוני ספר
שפה:English
יצא לאור: IEEE
נושאים:
Computing and Processing
Conference papers and proceedings.
גישה מקוונת:Full text available on IEEE [2017-2023]
Off-campus access
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue
  • מלאי ספרים
  • תיאור
  • פריטים דומים
  • תצוגת צוות

אינטרנט

Full text available on IEEE [2017-2023]
Off-campus access

פריטים דומים

  • Software Quality, Reliability and Security (QRS), IEEE International Conference on
  • 2018 IEEE International Conference on Software Quality, Reliability and Security (QRS)
  • 2016 IEEE International Conference on Software Quality, Reliability and Security (QRS)
  • 2017 IEEE International Conference on Software Quality, Reliability and Security Companion (QRS-C)
  • Software Quality, Reliability and Security Companion (QRS-C), IEEE International Conference on

אפשרויות חיפוש

  • חיפושים קודמים
  • חיפוש מתקדם

מצא עוד

  • דפדוף בקטלוג
  • Explore Channels

צריכים עזרה?

  • טיפים לחיפוש
  • שאלות נפוצות