2017 IEEE Conference on Visual Analytics Science and Technology (VAST)

Manylion Llyfryddiaeth
Fformat: Electronig Llyfr
Iaith:English
Cyhoeddwyd: IEEE
Pynciau:
Mynediad Ar-lein:Full text available on IEEE [2017-2023]
Off-campus access
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue

Eitemau Tebyg