Pattern recognition and machine learning /
| 1. autor: | |
|---|---|
| Format: | Książka |
| Język: | English |
| Wydane: |
New York :
Springer,
c2006
|
| Seria: | Information science and statistics.
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Classic Catalogue: | View this record in Classic Catalogue |
Ayesha Abed Library: General Shelf
| Sygnatura: |
006.4 BIS |
|---|---|
| Egzemplarz 1 | Checked out – do: 2025-10-21 23:59:00 Odwołaj |
| Egzemplarz 6 | Checked out – do: 2026-09-08 23:59:00 Odwołaj |
| Egzemplarz 5 | Checked out – do: 2026-09-30 23:59:00 Odwołaj |
| Egzemplarz 7 | Dostępne Zamów |
| Egzemplarz 4 | Dostępne Zamów |
Ayesha Abed Library: Circulation Desk
| Sygnatura: |
006.4 BIS |
|---|---|
| Egzemplarz 3 | Dostępne Zamów |
Ayesha Abed Library: New Materials Shelf
| Sygnatura: |
006.4 BIS |
|---|---|
| Egzemplarz 2 | Checked out – do: 2026-05-19 23:59:00 Odwołaj |