Mixed FBB and RBB low leakage technique for high durable CMOS circuit

This conference paper was presented in the 2014 International Conference on Informatics, Electronics and Vision, ICIEV 2014; Dhaka; Bangladesh; 23 May 2014 through 24 May 2014 [© 2014 IEEE Computer Society] The conference paper's definite version is available at: http://10.1109/ICIEV.2014.6850...

সম্পূর্ণ বিবরণ

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক:	Barua, Parag, Jafar, Imran Bin, Sengupta, Prianka, Noor, Md Sadaf
অন্যান্য লেখক:	Department of Electrical and Electronic Engineering
বিন্যাস:	Conference Paper
ভাষা:	English
প্রকাশিত:	© 2014 IEEE Computer Society 2016
বিষয়গুলি:	BB-Back Bias CMOS Circuits FBB-Forward Back Bias Gate leakage Leakage current Low leakage Low Power VLSI RBBReverse Back Bias Tunneling current
অনলাইন ব্যবহার করুন:	http://hdl.handle.net/10361/7035

আন্তর্জাল

http://hdl.handle.net/10361/7035

Mixed FBB and RBB low leakage technique for high durable CMOS circuit

আন্তর্জাল

অনুরূপ উপাদানগুলি