Investigation of IV characteristic of semiconductor diode and resistor using keithley 2450 source meter operated by labview programming

This internship report is submitted in partial fulfillment of the requirements for the degree of Bachelor of Applied Physics and Electronics, 2019.

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ:	Mustafa, Anjum
Այլ հեղինակներ:	Rahman, Muhammad Lutfor
Ձևաչափ:	Internship report
Լեզու:	English
Հրապարակվել է:	Brac University 2019
Խորագրեր:	Keihley 2450 IV characteristic curve Source Meter source measure unit Resistor Semiconductor lasers.
Առցանց հասանելիություն:	http://hdl.handle.net/10361/12424

http://hdl.handle.net/10361/12424

Նմանատիպ նյութեր