Mustafa, A., & Rahman, M. L. (2019). Investigation of IV characteristic of semiconductor diode and resistor using keithley 2450 source meter operated by labview programming. Brac University.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Mustafa, Anjum, та Muhammad Lutfor Rahman. Investigation of IV Characteristic of Semiconductor Diode and Resistor Using Keithley 2450 Source Meter Operated by Labview Programming. Brac University, 2019.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Mustafa, Anjum, та Muhammad Lutfor Rahman. Investigation of IV Characteristic of Semiconductor Diode and Resistor Using Keithley 2450 Source Meter Operated by Labview Programming. Brac University, 2019.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.