Mustafa, A., & Rahman, M. L. (2019). Investigation of IV characteristic of semiconductor diode and resistor using keithley 2450 source meter operated by labview programming. Brac University.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Mustafa, Anjum, i Muhammad Lutfor Rahman. Investigation of IV Characteristic of Semiconductor Diode and Resistor Using Keithley 2450 Source Meter Operated by Labview Programming. Brac University, 2019.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 8)Mustafa, Anjum, i Muhammad Lutfor Rahman. Investigation of IV Characteristic of Semiconductor Diode and Resistor Using Keithley 2450 Source Meter Operated by Labview Programming. Brac University, 2019.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..