2019 International Conference of the Biometrics Special Interest Group (BIOSIG)

Bibliografische gegevens
Formaat: Elektronisch Boek
Taal:English
Gepubliceerd in: IEEE
Onderwerpen:
Online toegang:Full text available on IEEE [2017-2023]
Off-campus access
Classic Catalogue: View this record in Classic Catalogue
Omschrijving
Beschrijving item:<strong>Off-Campus Access:</strong> Athens ID and Password Required
<strong>On-Campus Access:</strong> No User ID or Password Required
Fysieke beschrijving:1 online resource
Formaat:Mode of access: Internet
ISBN:978-1-7281-2677-7
978-3-88579-690-9
Toegang:Electronic access restricted to authorized BRAC University faculty, staff and students